聶榮臻元帥講：科技要發(fā)展、計(jì)量須先行。在中國計(jì)量測試學(xué)會成立六十周年暨紀(jì)念“5.20世界計(jì)量日”系列活動上面向社會公開發(fā)布了計(jì)量測試領(lǐng)域“重大科學(xué)問題和工程技術(shù)難題”、“科創(chuàng)中國先導(dǎo)技術(shù)榜單”和兩項(xiàng)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)。
計(jì)量測試領(lǐng)域“重大前沿科學(xué)問題與工程技術(shù)難題”
“如何解決集成電路制造工藝中缺陷在線檢測難題 ”入選2020年中國科協(xié)“十大工程難題”。集成電路領(lǐng)域作為國際科技競爭的主戰(zhàn)場和大國博弈的焦點(diǎn)，最先進(jìn)技術(shù)設(shè)備仍被少數(shù)國家壟斷，世界范圍內(nèi)7nm及以內(nèi)節(jié)點(diǎn)的缺陷在線檢測技術(shù)仍未成熟，突破下一代節(jié)點(diǎn)集成電路制造缺陷在線檢測技術(shù)能夠打破技術(shù)封鎖，將解決“卡脖子”難題，為交叉領(lǐng)域科技發(fā)展產(chǎn)生重大影響力和引領(lǐng)推動作用。
“極端復(fù)雜環(huán)境下測量技術(shù)”入選2019年中國科協(xié)“前五十五大問題難題”。目前由于核心元器件、傳感器受到國外限制，測量精度、范圍尚不能滿足未來航天產(chǎn)品的要求，亟需開展航天極端環(huán)境測試技術(shù)研究，準(zhǔn)確獲取狀態(tài)參數(shù)，用以支撐未來航天事業(yè)的發(fā)展。
“芯片三維納米結(jié)構(gòu)關(guān)鍵尺寸準(zhǔn)確計(jì)量難題”入選2020年中國科協(xié)“前七十九大問題難題”及2019 年中國科協(xié)信息科技學(xué)會聯(lián)合體“信息技術(shù)領(lǐng)域十大前沿?zé)狳c(diǎn)問題”。當(dāng)前我國缺少自己的芯片及集成電路量值溯源體系，芯片三維納米結(jié)構(gòu)關(guān)鍵尺寸無法校準(zhǔn)溯源。隨著芯片制造技術(shù)的不斷進(jìn)步，突破芯片三維納米結(jié)構(gòu)關(guān)鍵尺寸計(jì)量的技術(shù)瓶頸將會打破少數(shù)發(fā)達(dá)國家的技術(shù)壟斷，解決困擾芯片性能進(jìn)一步發(fā)展的瓶頸問題，實(shí)現(xiàn)自主創(chuàng)新。
“非正交軸系三維激光測量儀器”入選2019 年中國科協(xié)信息科技學(xué)會聯(lián)合體“信息技術(shù)領(lǐng)域十大前沿?zé)狳c(diǎn)問題”。突破其傳統(tǒng)正交軸系結(jié)構(gòu)的限制，創(chuàng)新提出了非正交軸系架構(gòu)的概念，開展了坐標(biāo)測量原理、方法和一系列關(guān)鍵技術(shù)研究。此研究不僅為實(shí)現(xiàn)常規(guī)尺寸空間、大尺寸空間的現(xiàn)場、自動、精密測量探索了新路，也為國家重大技術(shù)裝備制造提供技術(shù)支撐。
計(jì)量測試領(lǐng)域“科創(chuàng)中國先導(dǎo)技術(shù)榜單”
“大長徑比納米探針可控制備技術(shù)及應(yīng)用”入選2020年科創(chuàng)中國先導(dǎo)技術(shù)榜單。針對半導(dǎo)體芯片中大深寬比微納結(jié)構(gòu)的測量難題，提出了兩種大長徑比納米探針可控制備方法，通過可控制備高性能大長徑比碳納米管探針，并代替原子力探針，顯著提高了分辨能力，綜合性能更優(yōu)，有力促進(jìn)了納米測量儀器的自主創(chuàng)新發(fā)展。
中國計(jì)量測試學(xué)會團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
眼鏡驗(yàn)光配鏡行業(yè)服務(wù)質(zhì)量規(guī)范--為貫徹落實(shí)習(xí)近平總書記就兒童青少年近視高發(fā)問題作出的重要指示精神，學(xué)會立項(xiàng)并會同中國質(zhì)量檢驗(yàn)協(xié)會眼鏡質(zhì)量檢驗(yàn)與視光學(xué)專業(yè)委員會制定了《眼鏡驗(yàn)光配鏡服務(wù)質(zhì)量規(guī)范》團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)確定了驗(yàn)光配鏡規(guī)范性要求，創(chuàng)新性地提出了眼鏡驗(yàn)配檢驗(yàn)數(shù)據(jù)要求，對數(shù)據(jù)比對做出規(guī)定，可有效改善我國眼鏡驗(yàn)配無檢測數(shù)據(jù)的現(xiàn)狀。該標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)布實(shí)施，將對促進(jìn)眼鏡制配質(zhì)量，對防控青少年近視發(fā)揮重要的積極作用。
移動終端攝像系統(tǒng)光電性能和圖像質(zhì)量評測方法--為加快國內(nèi)相關(guān)影像測評方法和拓展應(yīng)用評價(jià)體系建設(shè)，推動質(zhì)量測試技術(shù)發(fā)展，學(xué)會制定《移動終端攝像系統(tǒng)光電性能和圖像質(zhì)量評測方法》。該標(biāo)準(zhǔn)建立了影像實(shí)驗(yàn)室評測環(huán)境和使用方法規(guī)范，增加了不同測試條件和終端配置指標(biāo)，建立了一套完整、規(guī)范而使用的評價(jià)體系，可幫助企業(yè)、制造商及運(yùn)營商和電商等銷售實(shí)體使用該項(xiàng)團(tuán)標(biāo)作為評估依據(jù)，對提升手機(jī)等移動終端圖像質(zhì)量發(fā)揮重要的技術(shù)保障和引領(lǐng)作用。
發(fā)布名單：
計(jì)量測試領(lǐng)域“重大前沿科學(xué)問題與工程技術(shù)難題”
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1 |
如何解決集成電路制造工藝中缺陷在線檢測難題?
（中國科協(xié)“十大工程難題”） |
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2 |
極端復(fù)雜環(huán)境下測量技術(shù)
（中國科協(xié)“前五十五問題”） |
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3 |
芯片三維納米結(jié)構(gòu)關(guān)鍵尺寸準(zhǔn)確計(jì)量難題
（中國科協(xié)“前七十九大問題難題及2019 年信息技術(shù)領(lǐng)域十大前沿?zé)狳c(diǎn)問題） |
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4 |
非正交軸系三維激光測量儀器
（2019 年信息技術(shù)領(lǐng)域十大前沿?zé)狳c(diǎn)問題） |
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大型裝備智能測量及健康診斷技術(shù) |
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如何解決同步輻射X射線注量的絕對測量問題？ |
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7 |
如何對石英晶體微天平進(jìn)行質(zhì)量量值溯源/校準(zhǔn)？ |
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8 |
基于大數(shù)據(jù)技術(shù)的熱物性數(shù)據(jù)庫的研究和建設(shè) |
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9 |
航天器在軌計(jì)量測試技術(shù) |
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人工合成各向異性材料的熱物性 |
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腦磁如何實(shí)現(xiàn)量值溯源？ |
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千克單位新定義的復(fù)現(xiàn) |
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如何為扁平化/零鏈條量值傳遞體系構(gòu)建可分發(fā)量子計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)？ |
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重大疾病診療溯源與質(zhì)量控制關(guān)鍵技術(shù)研究及應(yīng)用 |
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高溫材料測量中的計(jì)量問題 |
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工業(yè)現(xiàn)場復(fù)雜間接測量建模與計(jì)量評價(jià) |
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如何基于數(shù)字孿生進(jìn)行測量不確定度的在線評價(jià)？ |
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18 |
面向化工氣體的紅外傳感與在線檢測技術(shù)與裝備研發(fā) |
計(jì)量測試領(lǐng)域“科創(chuàng)中國先導(dǎo)技術(shù)榜單”
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1 |
大長徑比納米探針可控制備技術(shù)及應(yīng)用
（2020年“科創(chuàng)中國”先導(dǎo)技術(shù)榜單） |
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2 |
微波、毫米波功率計(jì)量關(guān)鍵技術(shù) |
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3 |
超薄真空腔均熱板性能測試方法 |
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4 |
激光高精度多參數(shù)快速綜合測量儀 |
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5 |
國產(chǎn)大飛機(jī)符合材料大型結(jié)構(gòu)件成型質(zhì)量檢測技術(shù) |
中國計(jì)量測試學(xué)會團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
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1 |
眼鏡驗(yàn)光配鏡行業(yè)服務(wù)質(zhì)量規(guī)范 |
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2 |
移動終端攝像系統(tǒng)光電性能和圖像質(zhì)量評測方法 |
